Las posibles incertidumbres de medición suelen estar asociadas con factores que afectan la estabilidad de los instrumentos a largo plazo. En estos encontramos el envejecimiento y las contaminaciones del equipo a raíz de los procesos de oxidación en equipos que no cuentan con protección adecuada y los átomos de impurezas que entran en el equipo, ocasionando modificaciones en sus aleaciones originales, además de la forma en que el hidrógeno puede hacer más frágiles a los equipos.
En este punto conviene considerar que un equipo de medición de temperatura de tipo R y S hasta los 1400°C usualmente no presenta envejecimiento, pero tienen alta sensibilidad a impurezas, en específico de silicio y fósforo que contamina el equipo y afecta su capacidad de medición. Los tipo J y T envejecen poco y los tipo K suelen dañarse por el azufre de gases de combustión, factores que deben considerarse al momento de emplearlos y por lo que se recomienda adoptar medidas de protección de los equipos.
En todo caso, el envejecimiento de equipos aumenta en relación con el aumento de temperatura y bajo otras condiciones significativas. Por ejemplo, en termopares tipo K existe la probabilidad de que se presenten modificaciones en la tensión térmica cuando se emplean en temperaturas que van de los 800°C a los 1050°C por la oxidación de cromo en el polo de NiCr, por lo que se requiere de una concentración baja de oxígeno y de vapor de agua en las proximidades del equipo. Este efecto en la tensión ocasiona desviaciones en los valores medidos y a raíz de la oxidación continuada del cromo en entornos donde el oxígeno es insuficiente el equipo envejece rápidamente y queda destruido. Al proceso, que no se presenta tipo N debido a que contiene silicio, recibe el nombre de moho verde, pues el equipo adquiere una coloración verdosa.
Otro efecto que se presenta en el tipo K es el efecto K que afecta la orientación de la red cristalina cuando se opera a temperaturas de alrededor de 400°C y 600°C llegando a un estado desordenado, lo mismo ocurre cuando el equipo se enfría demasiado rápido. Por encima de estas temperaturas, la red cristalina en el polo de NiCr de este tipo vuelve a ordenarse. Este efecto da como consecuencia errores de voltaje de aproximadamente 5°C que equivaldrían a 0,8 mV que deben considerarse al momento de analizar los datos de medición.
El efecto K se puede evitar si se trabaja por encima de los rangos de temperatura que hemos indicado y si el enfriamiento se hace lentamente. En este punto conviene mencionar también que los equipos que tienen revestimiento son particularmente sensibles y que un enfriamiento mínimo en su superficie puede provocar diferencias superiores a 1°C por lo que se debe tener cuidado al trabajar con ellos para reducir los márgenes de error o considerarlos al hacer los análisis correspondientes.
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